A：これは多くの製品メーカーが聞きたい質問ですが、当然最も多い答えは「安全規格で定められているから」です。電気安全規制の背景を深く理解できれば、その背後にある責任が見えてきます。意味を持って。生産ラインでの電気安全性テストには少し時間がかかりますが、電気的危険による製品リサイクルのリスクを軽減できます。最初から正しく行うことが、コストを削減し、信頼を維持するための正しい方法です。
A：電気的損傷試験は主に以下の4種類に分かれます。 耐電圧・耐電圧試験：耐電圧試験は製品の電源回路とグランド回路に高電圧を印加し、破壊状態を測定します。絶縁抵抗試験：製品の電気絶縁状態を測定します。漏れ電流試験：AC/DC電源のアース端子への漏れ電流が規格を超えているかどうかを検査します。保護接地: アクセス可能な金属構造が適切に接地されているかどうかをテストします。
A：メーカーや試験所の検査者の安全を目的として、ヨーロッパでは長年行われてきました。電子機器、情報技術製品、家庭用電化製品、機械工具、その他の機器のメーカーやテスターであっても、さまざまな安全規制において、UL、IEC、EN などの規制には、試験領域のマーキング（担当者）を含む章が存在します。場所、機器の場所、DUT の場所）、機器のマーキング（明確にマークされた「危険」または試験対象の項目）、機器の作業台およびその他の関連設備の接地状態、および各試験機器の電気絶縁能力（IEC 61010）。
A：耐電圧試験または高電圧試験（HIPOT試験）は、製品の品質および電気的安全特性（JSI、CSA、BSI、UL、IEC、TUVなどの国際規格で要求されるものなど）を検証するために使用される100％規格です。これは、最もよく知られており、頻繁に実施される生産ラインの安全性テストでもあります。HIPOT テストは、電気絶縁材料が過渡高電圧に対して十分な耐性があることを確認するための非破壊テストであり、絶縁材料が適切であることを確認するためにすべての機器に適用できる高電圧テストです。HIPOT テストを実行するもう 1 つの理由は、製造プロセス中に発生する不十分な沿面距離やクリアランスなどの潜在的な欠陥を検出できることです。
A：通常、電力系統の電圧波形は正弦波です。電力システムの動作中、落雷、動作、故障、または電気機器の不適切なパラメータのマッチングにより、システムの一部の部分の電圧が突然上昇し、定格電圧を大幅に超える電圧（過電圧）になります。過電圧は、その原因に応じて 2 つのカテゴリに分類できます。一つは、直撃雷や誘導雷による過電圧で、外部過電圧と呼ばれます。雷のインパルス電流とインパルス電圧は大きく、持続時間が非常に短いため、非常に破壊的です。しかし、街中や一般産業企業などの3～10kV以下の架空線は、作業場や高層ビルによって遮蔽されているため、雷が直撃する確率は非常に低く、比較的安全です。なお、ここで取り上げるのは家電製品であり、上記の範囲外であるため、これ以上の説明は省略する。もう 1 つのタイプは、無負荷ラインの接続、無負荷変圧器の遮断、システム内の単相アーク接地など、電力システム内のエネルギー変換またはパラメータの変化によって引き起こされ、内部過電圧と呼ばれます。内部過電圧は、電力システム内のさまざまな電気機器の通常の絶縁レベルを決定するための主な基準です。つまり、製品の絶縁構造は定格電圧だけでなく、製品の使用環境における内部過電圧も考慮して設計する必要があります。耐電圧試験は、製品の絶縁構造が電力系統の内部過電圧に耐えられるかどうかを検査するものです。
A：通常、AC耐電圧試験はDC耐電圧試験よりも安全機関に受け入れられやすいです。その主な理由は、試験対象のほとんどが AC 電圧下で動作するためであり、AC 耐電圧試験には 2 つの極性を交互に加えて絶縁に応力を加えることができ、実際の使用時に製品が受ける応力に近いという利点があります。AC テストでは容量性負荷が充電されないため、電流測定値は電圧印加の開始からテストの終了まで同じままです。したがって、電流読み取り値の監視に必要な安定化の問題がないため、電圧を上昇させる必要はありません。これは、試験対象の製品が突然印加された電圧を感知しない限り、オペレータは待つことなくすぐに最大電圧を印加して電流を読み取ることができることを意味します。AC電圧は負荷を充電しないため、試験後に被試験デバイスを放電する必要はありません。
A：容量性負荷を試験する場合、合計電流は無効電流と漏れ電流で構成されます。無効電流量が実際の漏れ電流よりも大幅に大きい場合、漏れ電流が過大な製品の検出が困難になる場合があります。大きな容量性負荷をテストする場合、必要な合計電流は漏れ電流そのものよりもはるかに大きくなります。オペレータがより高い電流にさらされるため、これはより大きな危険となる可能性があります。
A：被測定物（DUT）が完全に充電されている場合、真の漏れ電流のみが流れます。これにより、DC Hipot Tester は、テスト対象の製品の実際の漏れ電流を明確に表示できるようになります。充電電流は短時間であるため、DC 耐電圧テスターの電力要件は、同じ製品のテストに使用される AC 耐電圧テスターの電力要件よりもはるかに小さいことがよくあります。
A：DC耐電圧試験ではDUTが充電されるため、耐電圧試験後にDUTを扱う作業者の感電の危険を避けるために、試験後にDUTを放電する必要があります。DC テストはコンデンサを充電します。DUT が実際に AC 電源を使用する場合、DC メソッドは実際の状況をシミュレートしません。
A：耐電圧試験にはAC耐電圧試験とDC耐電圧試験の2種類があります。絶縁材料の特性により、AC 電圧と DC 電圧の破壊メカニズムは異なります。ほとんどの断熱材と断熱システムには、さまざまな媒体が含まれています。AC テスト電圧がそれに印加されると、電圧は材料の誘電率や寸法などのパラメータに比例して分配されます。一方、DC 電圧は材料の抵抗に比例して電圧を分配するだけです。そして実際、絶縁構造の破壊は電気的破壊、熱的破壊、放電などが同時に発生することが多く、これらを完全に分離することは困難です。また、AC 電圧は DC 電圧よりも熱破壊の可能性が高くなります。したがって、AC耐電圧試験はDC耐電圧試験よりも厳しいと考えられます。実際に耐電圧試験を行う場合、直流で耐電圧試験を行う場合には、交流電源周波数の試験電圧よりも高い試験電圧が必要となります。一般的な直流耐電圧試験の試験電圧は、交流試験電圧の実効値に定数Kを乗じた電圧となります。比較テストを通じて、次の結果が得られました。ワイヤおよびケーブル製品の場合、定数 K は 3 です。航空業界の場合、定数 K は 1.6 ～ 1.7 です。CSA は通常、民間製品に 1.414 を使用します。
A：耐電圧試験を決定する試験電圧は、製品が投入される市場によって異なり、その国の輸入規制の一部である安全基準または規制に準拠する必要があります。耐電圧試験の試験電圧と試験時間は安全規格で定められています。理想的な状況は、クライアントに関連するテスト要件を提示してもらうことです。一般耐電圧試験の試験電圧は、使用電圧が42V～1000Vの場合、使用電圧の2倍に1000Vを加えた電圧となります。この試験電圧は 1 分間印加されます。たとえば、230V で動作する製品の場合、テスト電圧は 1460V になります。電圧印加時間を短くした場合には、試験電圧を高くする必要があります。たとえば、UL 935 の生産ラインのテスト条件は次のとおりです。
| 状態 | 適用時間（秒） | 印加電圧 |
| A | 60 | 1000V＋（2×V） |
| B | 1 | 1200V＋（2.4×V） |
| V=最大定格電圧 | ||
A：耐衝撃試験器の能力は出力を指します。耐電圧試験器の能力は、最大出力電流×最大出力電圧で決まります。例:5000Vx100mA=500VA
A: AC耐電圧試験とDC耐電圧試験の測定値に差異が生じる主な原因は、試験対象物の浮遊容量です。これらの浮遊容量は、AC でテストするときに完全に充電されていない可能性があり、これらの浮遊容量を介して連続電流が流れます。DC テストでは、DUT の浮遊容量が完全に充電されると、残るのは DUT の実際の漏れ電流です。したがって、AC耐電圧試験とDC耐電圧試験で測定される漏れ電流値は異なります。
A: 絶縁体は非導電性ですが、実際には、完全に非導電性の絶縁材料はほとんどありません。どのような絶縁材料であっても、その両端に電圧が印加されると、常に一定の電流が流れます。この電流の有効成分は漏れ電流と呼ばれ、この現象は絶縁体の漏れとも呼ばれます。電気製品のテストの場合、漏れ電流とは、電圧が印加されていないときに、相互絶縁された金属部品間、または通電部品と接地部品の間に周囲の媒体または絶縁表面によって形成される電流を指します。は漏れ電流です。米国の UL 規格によれば、漏れ電流とは、容量結合電流を含む、家庭用電化製品のアクセス可能な部分から伝導する可能性のある電流です。漏れ電流には 2 つの部分があり、1 つは絶縁抵抗を通る伝導電流 I1 です。もう 1 つは分布容量を流れる変位電流 I2 で、後者の容量性リアクタンスは XC=1/2pfc で電源周波数に反比例し、分布容量電流は周波数とともに増加します。が増加するため、漏れ電流は電源の周波数とともに増加します。たとえば、電源にサイリスタを使用すると、その高調波成分により漏れ電流が増加します。
A: 耐電圧試験は、試験対象物の絶縁系に流れる漏れ電流を検出し、絶縁系に使用電圧以上の電圧を印加する試験です。一方、電源漏れ電流（接触電流）は、通常動作時の被測定物の漏れ電流を検出するためのものです。測定対象物の最も不利な条件（電圧、周波数）での漏れ電流を測定します。簡単に言うと、耐電圧試験の漏れ電流は電源が動作していない状態で測定された漏れ電流であり、電源漏れ電流（接触電流）は通常動作で測定された漏れ電流です。
A: 異なる構造の電子製品の場合、タッチ電流の測定にも異なる要件がありますが、一般に、タッチ電流は、接地接触電流、接地漏れ電流、表面から接地への接触電流、表面から線への漏れ電流、および表面に分類できます。線間漏れ電流 3 タッチ電流 表面間漏れ電流試験
A: クラス I 機器の電子製品のアクセス可能な金属部品または筐体には、基礎絶縁以外に、感電に対する保護手段として適切な接地回路が必要です。ただし、クラス I 機器を任意にクラス II 機器として使用したり、クラス I 機器の電源入力端のグランド端子 (GND) を直接抜いたりするユーザーも多く見受けられ、セキュリティ上のリスクが伴います。それでも、この状況によって引き起こされるユーザーへの危険を回避するのはメーカーの責任です。このため、接触電流テストが行われます。
A: AC耐電圧試験では、試験対象物の種類、試験対象物の浮遊容量の存在、試験電圧の違いなどにより基準がありません。
A: テスト電圧を決定する最良の方法は、テストに必要な仕様に従って電圧を設定することです。一般的に、動作電圧の 2 倍に 1000V を加えた値に従ってテスト電圧を設定します。たとえば、製品の動作電圧が 115VAC の場合、2 x 115 + 1000 = 1230 ボルトをテスト電圧として使用します。もちろん、絶縁層のグレードが異なるため、テスト電圧の設定も異なります。
A: これら 3 つの用語はすべて同じ意味ですが、テスト業界では同じ意味で使用されることがよくあります。
A: 絶縁抵抗試験と耐電圧試験は非常に似ています。試験対象の 2 点に最大 1000V の DC 電圧を印加します。IR テストでは通常、Hipot テストの合否表現ではなく、抵抗値がメグオームで表示されます。通常、テスト電圧は 500V DC で、絶縁抵抗 (IR) 値は数メガオーム以上である必要があります。絶縁抵抗試験は非破壊で絶縁が良好かどうかを検査することができます。仕様によっては、絶縁抵抗試験を行ってから耐電圧試験を行う場合もあります。絶縁抵抗試験が不合格となると、耐電圧試験も不合格になることがよくあります。
A: グランド接続テスト (グランド導通 (Ground Continuity) テストと呼ぶ人もいます) では、DUT ラックとグランド ポスト間のインピーダンスを測定します。接地結合テストは、製品が故障した場合に DUT の保護回路が障害電流を適切に処理できるかどうかを判断します。接地ボンドテスターは、接地回路を通じて最大 30A の DC 電流または AC rms 電流 (CSA は 40A の測定が必要) を生成し、一般に 0.1 オーム未満である接地回路のインピーダンスを測定します。
A: IR テストは、断熱システムの相対的な品質を示す定性テストです。通常、500V または 1000V の DC 電圧でテストされ、結果はメガオーム抵抗で測定されます。耐電圧試験も被測定物（DUT）に高電圧を印加しますが、その印加電圧はIR試験よりも高くなります。ACまたはDC電圧で実行できます。結果はミリアンペアまたはマイクロアンペアで測定されます。仕様によっては、IR 試験を先に実施し、次に耐電圧試験を実施する場合もあります。被試験デバイス (DUT) が IR テストに不合格になると、その被試験デバイス (DUT) はより高い電圧での耐電圧試験にも不合格になります。
A: 接地インピーダンス試験の目的は、機器製品に異常が発生した場合に、保護接地線が故障電流の流れに耐えられるかどうかを確認し、ユーザーの安全を確保することです。安全規格のテスト電圧では、最大開路電圧が 12V の制限を超えてはならないと規定されており、これはユーザーの安全上の考慮事項に基づいています。テストに不合格が発生すると、オペレータが感電する危険が軽減されます。一般的な規格では、接地抵抗は0.1オーム未満であることが求められています。製品の実際の使用環境に合わせて、周波数 50Hz または 60Hz の AC 電流テストを使用することをお勧めします。
A: 耐電圧試験と漏電試験にはいくつかの違いがありますが、大まかにまとめると次のようになります。耐電圧試験は、製品の絶縁部分に高電圧を加えて、製品の絶縁強度が過大な漏れ電流を防ぐのに十分であるかどうかを確認する試験です。漏れ電流試験は、製品使用時に電源の正常時および単独故障時に製品に流れる漏れ電流を測定する試験です。
A： 放電時間の違いは被試験物の静電容量と耐電圧試験器の放電回路により異なります。静電容量が大きいほど、必要な放電時間は長くなります。
A: クラス I 機器とは、アクセス可能な導体部分が接地保護導体に接続されていることを意味します。基礎絶縁が破損した場合、接地保護導体は故障電流に耐えることができなければなりません。つまり、基礎絶縁が破損した場合、アクセス可能な部品は通電中の電気部品になることができません。簡単に言えば、電源コードの接地ピンを持つ機器はクラス I 機器です。クラス II 機器は、電気から保護するために「基本絶縁」に依存するだけでなく、「二重絶縁」または「強化絶縁」などの他の安全対策も提供します。保護接地の信頼性や設置条件に関する条件はありません。
