Ang pagkakabukod ng resistensya ng pagkakabukod ay angkop para sa pagsukat ng halaga ng paglaban ng iba't ibang mga materyales sa insulating at ang paglaban ng pagkakabukod ng mga transformer, motor, cable at elektrikal na kagamitan, upang matiyak na ang mga kagamitan na ito, mga de -koryenteng kasangkapan at linya ay gumagana sa normal na mga kondisyon upang maiwasan ang electric shock, kaswalti at kagamitan Pinsala.
Ang mga karaniwang problema ng paglaban sa paglaban ng pagkakabukod ay ang mga sumusunod:
1. Kapag sinusukat ang paglaban ng capacitive load, ano ang ugnayan sa pagitan ng output short-circuit kasalukuyang ng paglaban ng paglaban sa pagkakabukod at ang sinusukat na data, at bakit?
Ang laki ng output short-circuit kasalukuyang ng pagkakabukod ng paglaban tester ay maaaring sumasalamin sa laki ng panloob na pagtutol ng mapagkukunan ng high-boltahe sa loob ng megger.
Maraming mga pagsubok sa pagkakabukod ang nagta -target ng mga capacitive load, tulad ng mas mahabang mga cable, motor na may mas maraming mga paikot -ikot, at mga transformer. Samakatuwid, kapag ang sinusukat na target ay may kapasidad, sa simula ng proseso ng pagsubok, ang mapagkukunan ng mataas na boltahe sa paglaban ng pagkakabukod ay dapat singilin ang kapasitor sa pamamagitan ng panloob na pagtutol nito, at unti-unting singilin ang boltahe sa karagdagang mataas na boltahe na output ng Insulation Resistance Tester. . Kung ang halaga ng kapasidad ng sinusukat na target ay malaki, o malaki ang panloob na pagtutol ng mapagkukunan ng high-boltahe, mas matagal ang proseso ng pagsingil.
Ang haba nito ay maaaring matukoy ng produkto ng r inner at c load (yunit: pangalawa), iyon ay, t = r inner*c load.
Samakatuwid, sa panahon ng pagsubok, kinakailangan na singilin ang tulad ng isang capacitive load sa boltahe ng pagsubok, at ang bilis ng pagsingil ng DV/DT ay katumbas ng ratio ng singilin kasalukuyang i sa capacitance ng pag -load C. Iyon ay, DV/DT = I/c.
Samakatuwid, ang mas maliit na panloob na pagtutol at mas malaki ang singilin kasalukuyang, mas mabilis ang mga resulta ng pagsubok ay magiging matatag.
2. Ano ang pag -andar ng "G" na bahagi ng hitsura? Sa isang mataas na boltahe at mataas na paglaban sa kapaligiran ng pagsubok, bakit kinakailangan na ikonekta ang "G" terminal sa labas?
Ang "G" dulo ng ibabaw ay isang terminal ng kalasag. Ang pag -andar ng terminal ng kalasag ay upang alisin ang impluwensya ng kahalumigmigan at dumi sa kapaligiran ng pagsubok sa mga resulta ng pagsukat. Ang panlabas na terminal ng "G" ay lumampas sa pagtagas ng kasalukuyang nasubok na produkto, upang ang kasalukuyang pagtagas ay hindi dumaan sa panlabas na circuit circuit, at tinanggal ang error na sanhi ng kasalukuyang pagtagas. Ginagamit ang terminal ng G kapag sumusubok sa mataas na pagtutol.
Sa pangkalahatan, ang G terminal ay maaaring isaalang -alang para sa mas mataas kaysa sa 10g. Gayunpaman, ang saklaw ng paglaban na ito ay hindi tiyak. Kapag ito ay malinis at tuyo at ang dami ng object ng pagsubok ay maliit, maaari itong maging matatag nang hindi sinusukat ang 500g sa pagtatapos ng G. Sa mahalumigmig at maruming kapaligiran, ang isang mas mababang halaga ng paglaban ay nangangailangan din ng pagtatapos ng G. Partikular, kung nalaman mo na ang mga resulta ay mahirap patatagin kapag sinusukat ang mas mataas na pagtutol, maaari mong isaalang -alang ang paggamit ng G terminal. Tandaan din na ang kalasag na terminal G ay hindi konektado sa layer ng kalasag, ngunit sa insulator sa pagitan ng L at E o sa multi-stranded wire, hindi sa iba pang mga wire sa ilalim ng pagsubok.
3. Bakit hindi lamang kinakailangan upang masukat ang purong halaga ng paglaban kapag sinusukat ang pagkakabukod, ngunit din upang masukat ang ratio ng pagsipsip at index ng polariseysyon. Ano ang punto?
Ang PI ay ang index ng polariseysyon, na tumutukoy sa paghahambing sa pagitan ng paglaban ng pagkakabukod ng 10 minuto at ang paglaban ng pagkakabukod ng 1 minuto sa panahon ng pagsubok ng pagkakabukod;
Ang DAR ay ang dielectric na pagsipsip ng ratio, na tumutukoy sa paghahambing sa pagitan ng paglaban ng pagkakabukod ng 1 minuto at ang paglaban ng pagkakabukod ng 15s sa panahon ng pagsubok sa pagkakabukod;
Sa pagsubok ng pagkakabukod, ang halaga ng paglaban ng pagkakabukod sa isang tiyak na sandali ay hindi maaaring ganap na maipakita ang pag -andar ng pagkakabukod ng sample sample. Ito ay dahil sa sumusunod na dalawang kadahilanan. Sa isang banda, ang paglaban ng pagkakabukod ng parehong pag -andar ng materyal na pagkakabukod ay maliit kapag malaki ang dami. , Lilitaw ang paglaban ng pagkakabukod kapag maliit ang dami. Sa kabilang banda, ang materyal na insulating ay may proseso ng pagsipsip ng ratio at ang proseso ng polariseysyon ng singil pagkatapos mailapat ang mataas na boltahe. Samakatuwid, ang sistema ng kuryente ay nangangailangan ng pagsukat ng ratio ng pagsipsip-ang ratio ng R60s at R15s, at ang index ng polariseysyon-ang ratio ng R10min at R1min sa pagsubok ng pagkakabukod ng mga pangunahing transformer, cable, motor at maraming iba pang mga okasyon, at ginagamit ito Data upang matukoy ang pagkakabukod mabuti o masama.
4. Bakit ang elektronikong paglaban sa paglaban sa paglaban ay makagawa ng mas mataas na DC mataas na boltahe kapag pinalakas ng maraming mga baterya? Ito ay batay sa prinsipyo ng pag -convert ng DC. Ang mas mababang boltahe ng supply ng kuryente ay nakataas sa isang mas mataas na output ng DC boltahe sa pamamagitan ng pagproseso ng circuit ng boost. Ang mataas na boltahe na nabuo ay mas mataas ngunit ang lakas ng output ay maliit (mababang enerhiya at maliit na kasalukuyang).
Tandaan: Kahit na ang lakas ay napakaliit, hindi inirerekomenda na personal na hawakan ang pagsubok sa pagsubok, magkakaroon pa rin ng isang nakakagulat na pandamdam.
Oras ng Mag-post: Pebrero-06-2021
