A: یہ ایک ایسا سوال ہے جو بہت سے پروڈکٹ مینوفیکچررز پوچھنا چاہتے ہیں، اور یقیناً اس کا سب سے عام جواب ہے "کیونکہ حفاظتی معیار اس کا تعین کرتا ہے۔"اگر آپ برقی حفاظتی ضوابط کے پس منظر کو گہرائی سے سمجھ سکتے ہیں، تو آپ کو اس کے پیچھے ذمہ داری نظر آئے گی۔معنی کے ساتھ.اگرچہ الیکٹریکل سیفٹی ٹیسٹنگ میں پروڈکشن لائن پر تھوڑا وقت لگتا ہے، لیکن یہ آپ کو برقی خطرات کی وجہ سے مصنوعات کی ری سائیکلنگ کے خطرے کو کم کرنے کی اجازت دیتا ہے۔لاگت کو کم کرنے اور نیک نیتی کو برقرار رکھنے کا صحیح طریقہ پہلی بار درست کرنا ہے۔
A: برقی نقصان کے ٹیسٹ کو بنیادی طور پر درج ذیل چار اقسام میں تقسیم کیا گیا ہے: ڈائی الیکٹرک وِڈسٹینڈ / ہِپوٹ ٹیسٹ: وِدِسٹنڈ وولٹیج ٹیسٹ پروڈکٹ کی پاور اور گراؤنڈ سرکٹس پر ہائی وولٹیج کا اطلاق کرتا ہے اور اس کی خرابی کی حالت کی پیمائش کرتا ہے۔آئسولیشن ریزسٹنس ٹیسٹ: پروڈکٹ کی برقی موصلیت کی حالت کی پیمائش کریں۔لیکیج کرنٹ ٹیسٹ: معلوم کریں کہ آیا زمینی ٹرمینل کو AC/DC پاور سپلائی کا رساو کرنٹ معیار سے زیادہ ہے۔حفاظتی گراؤنڈ: جانچ کریں کہ آیا قابل رسائی دھاتی ڈھانچے کو صحیح طریقے سے گراؤنڈ کیا گیا ہے۔
A： مینوفیکچررز یا ٹیسٹ لیبارٹریوں میں ٹیسٹرز کی حفاظت کے لیے، یہ یورپ میں کئی سالوں سے رائج ہے۔چاہے وہ الیکٹرانک آلات، انفارمیشن ٹیکنالوجی کی مصنوعات، گھریلو آلات، مکینیکل ٹولز یا دیگر آلات کے مینوفیکچررز اور ٹیسٹرز ہوں، مختلف حفاظتی ضوابط میں ضوابط میں ابواب ہیں، چاہے وہ UL، IEC، EN ہو، جس میں ٹیسٹ ایریا مارکنگ شامل ہے (عملہ محل وقوع، آلے کا مقام، DUT مقام)، سامان کی نشان دہی (واضح طور پر نشان زد "خطرہ" یا ٹیسٹ کے تحت آئٹمز)، آلات کے ورک بینچ اور دیگر متعلقہ سہولیات کی گراؤنڈ حالت، اور ہر ٹیسٹ کے آلات کی برقی موصلیت کی صلاحیت (IEC 61010)۔
A: وولٹیج ٹیسٹ یا ہائی وولٹیج ٹیسٹ (HIPOT ٹیسٹ) ایک 100% معیار ہے جو مصنوعات کے معیار اور برقی حفاظتی خصوصیات کی تصدیق کے لیے استعمال کیا جاتا ہے (جیسے کہ JSI، CSA، BSI، UL، IEC، TUV، وغیرہ کے لیے درکار بین الاقوامی۔ حفاظتی ایجنسیاں) یہ سب سے مشہور اور کثرت سے پروڈکشن لائن سیفٹی ٹیسٹ بھی ہے۔HIPOT ٹیسٹ ایک غیر تباہ کن ٹیسٹ ہے اس بات کا تعین کرنے کے لیے کہ برقی موصلیت کا مواد عارضی ہائی وولٹیج کے لیے کافی مزاحم ہے، اور یہ ایک ہائی وولٹیج ٹیسٹ ہے جو تمام آلات پر لاگو ہوتا ہے تاکہ یہ یقینی بنایا جا سکے کہ موصلیت کا مواد مناسب ہے۔HIPOT ٹیسٹنگ کرنے کی دوسری وجوہات یہ ہیں کہ یہ ممکنہ نقائص کا پتہ لگا سکتا ہے جیسے کہ ناکافی کری پیج فاصلے اور مینوفیکچرنگ کے عمل کے دوران کلیئرنس۔
A: عام طور پر، پاور سسٹم میں وولٹیج ویوفارم ایک سائن ویو ہے۔بجلی کے نظام کے آپریشن کے دوران، بجلی گرنے، آپریشن، خرابیوں یا برقی آلات کی غلط پیرامیٹر میچنگ کی وجہ سے، سسٹم کے کچھ حصوں کا وولٹیج اچانک بڑھ جاتا ہے اور اس کے ریٹیڈ وولٹیج سے بہت زیادہ ہو جاتا ہے، جو کہ اوور وولٹیج ہے۔اوور وولٹیج کو اس کی وجوہات کے مطابق دو قسموں میں تقسیم کیا جا سکتا ہے۔ایک ہے اوور وولٹیج جو براہ راست بجلی کی ہڑتال یا بجلی کے انڈکشن کی وجہ سے ہوتا ہے، جسے بیرونی اوور وولٹیج کہا جاتا ہے۔بجلی کے امپلس کرنٹ اور امپلس وولٹیج کی شدت بڑی ہے، اور دورانیہ بہت کم ہے، جو کہ انتہائی تباہ کن ہے۔تاہم، چونکہ شہروں اور عام صنعتی اداروں میں 3-10kV اور اس سے نیچے کی اوور ہیڈ لائنیں ورکشاپوں یا اونچی عمارتوں سے محفوظ ہیں، اس لیے آسمانی بجلی سے براہ راست ٹکرانے کا امکان بہت کم ہے، جو نسبتاً محفوظ ہے۔مزید برآں، یہاں جس چیز پر بحث کی گئی ہے وہ گھریلو برقی آلات ہے، جو اوپر بیان کردہ دائرہ کار میں نہیں ہے، اور اس پر مزید بات نہیں کی جائے گی۔دوسری قسم بجلی کے نظام کے اندر توانائی کی تبدیلی یا پیرامیٹر کی تبدیلیوں کی وجہ سے ہوتی ہے، جیسے نو لوڈ لائن کو فٹ کرنا، نو لوڈ ٹرانسفارمر کو کاٹنا، اور سسٹم میں سنگل فیز آرک گراؤنڈ کرنا، جسے اندرونی اوور وولٹیج کہا جاتا ہے۔اندرونی اوور وولٹیج پاور سسٹم میں مختلف برقی آلات کی عام موصلیت کی سطح کا تعین کرنے کی بنیادی بنیاد ہے۔کہنے کا مطلب یہ ہے کہ مصنوعات کی موصلیت کے ڈھانچے کے ڈیزائن میں نہ صرف درجہ بندی شدہ وولٹیج بلکہ مصنوعات کے استعمال کے ماحول کے اندرونی اوور وولٹیج کو بھی مدنظر رکھنا چاہیے۔وولٹیج کا سامنا کرنے کا ٹیسٹ یہ معلوم کرنا ہے کہ آیا پروڈکٹ کی موصلیت کا ڈھانچہ پاور سسٹم کے اندرونی اوور وولٹیج کو برداشت کر سکتا ہے۔
A: عام طور پر AC وولٹیج کا مقابلہ کرنے والا ٹیسٹ حفاظتی اداروں کے لیے ڈی سی کے مقابلے میں زیادہ قابل قبول ہوتا ہے۔اس کی بنیادی وجہ یہ ہے کہ ٹیسٹ کے تحت زیادہ تر اشیاء AC وولٹیج کے تحت کام کریں گی، اور AC کا سامنا کرنے والا وولٹیج ٹیسٹ موصلیت کو دبانے کے لیے دو قطبین کو تبدیل کرنے کا فائدہ پیش کرتا ہے، جو اصل استعمال میں پروڈکٹ کو درپیش دباؤ کے قریب ہے۔چونکہ AC ٹیسٹ capacitive بوجھ کو چارج نہیں کرتا ہے، اس لیے موجودہ ریڈنگ وولٹیج ایپلی کیشن کے آغاز سے لے کر ٹیسٹ کے اختتام تک یکساں رہتی ہے۔لہذا، وولٹیج کو بڑھانے کی ضرورت نہیں ہے کیونکہ موجودہ ریڈنگز کی نگرانی کے لیے اسٹیبلائزیشن کے مسائل نہیں ہیں۔اس کا مطلب یہ ہے کہ جب تک ٹیسٹ کے تحت پروڈکٹ کو اچانک لاگو وولٹیج کا احساس نہ ہو، آپریٹر فوری طور پر مکمل وولٹیج لگا سکتا ہے اور انتظار کیے بغیر کرنٹ پڑھ سکتا ہے۔چونکہ AC وولٹیج لوڈ کو چارج نہیں کرتا ہے، اس لیے ٹیسٹ کے بعد ٹیسٹ کے تحت ڈیوائس کو خارج کرنے کی ضرورت نہیں ہے۔
A: capacitive بوجھ کی جانچ کرتے وقت، کل کرنٹ ری ایکٹو اور لیکیج کرنٹ پر مشتمل ہوتا ہے۔جب ری ایکٹو کرنٹ کی مقدار حقیقی لیکیج کرنٹ سے بہت زیادہ ہوتی ہے، تو ضرورت سے زیادہ رساو والے کرنٹ والی مصنوعات کا پتہ لگانا مشکل ہو سکتا ہے۔بڑے کیپسیٹو بوجھ کی جانچ کرتے وقت، کل درکار کرنٹ خود رساو کرنٹ سے بہت زیادہ ہوتا ہے۔یہ زیادہ خطرہ ہو سکتا ہے کیونکہ آپریٹر کو زیادہ کرنٹ کا سامنا ہے۔
A： جب ٹیسٹ کے تحت ڈیوائس (DUT) پوری طرح سے چارج ہو جاتی ہے، تو صرف حقیقی لیکیج کرنٹ بہتا ہے۔یہ DC Hipot ٹیسٹر کو جانچ کے تحت پروڈکٹ کے حقیقی لیکیج کرنٹ کو واضح طور پر ظاہر کرنے کے قابل بناتا ہے۔چونکہ چارجنگ کرنٹ قلیل المدت ہوتا ہے، اس لیے ڈی سی کو برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹر کی بجلی کی ضروریات اکثر ایک ہی پروڈکٹ کو جانچنے کے لیے استعمال ہونے والے AC وولٹیج ٹیسٹر کے مقابلے میں بہت کم ہو سکتی ہیں۔
A：چونکہ ڈی سی وولٹیج ٹیسٹ DUT کو چارج کرتا ہے، اس لیے DUT کو برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ کے بعد آپریٹر کے لیے الیکٹرک شاک کے خطرے کو ختم کرنے کے لیے، DUT کو ٹیسٹ کے بعد ڈسچارج کرنا چاہیے۔ڈی سی ٹیسٹ کیپسیٹر کو چارج کرتا ہے۔اگر DUT اصل میں AC پاور استعمال کرتا ہے، تو DC طریقہ اصل صورت حال کی تقلید نہیں کرتا ہے۔
A： دو طرح کے اسٹینڈ وولٹیج ٹیسٹ ہوتے ہیں: AC وولٹیج ٹیسٹ اور DC وولٹیج ٹیسٹ کا سامنا۔موصل مواد کی خصوصیات کی وجہ سے، AC اور DC وولٹیج کے ٹوٹنے کے طریقہ کار مختلف ہیں۔زیادہ تر موصل مواد اور نظام مختلف ذرائع ابلاغ پر مشتمل ہوتے ہیں۔جب اس پر AC ٹیسٹ وولٹیج کا اطلاق ہوتا ہے، تو وولٹیج کو پیرامیٹرز کے تناسب سے تقسیم کیا جائے گا جیسے ڈائی الیکٹرک مستقل اور مواد کے طول و عرض۔جبکہ ڈی سی وولٹیج صرف وولٹیج کو مواد کی مزاحمت کے تناسب سے تقسیم کرتا ہے۔اور درحقیقت، موصلی ڈھانچے کی خرابی اکثر ایک ہی وقت میں برقی بریک ڈاؤن، تھرمل بریک ڈاؤن، ڈسچارج اور دیگر شکلوں کی وجہ سے ہوتی ہے، اور انہیں مکمل طور پر الگ کرنا مشکل ہوتا ہے۔اور AC وولٹیج DC وولٹیج پر تھرمل بریک ڈاؤن کے امکان کو بڑھاتا ہے۔لہذا، ہمارا ماننا ہے کہ AC وولٹیج کا مقابلہ کرنے والا ٹیسٹ ڈی سی کے مقابلے میں زیادہ سخت ہے۔اصل آپریشن میں، برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ کے دوران، اگر DC کو برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ کے لیے استعمال کیا جاتا ہے، تو ٹیسٹ وولٹیج کا AC پاور فریکوئنسی کے ٹیسٹ وولٹیج سے زیادہ ہونا ضروری ہے۔جنرل DC کے ٹیسٹ وولٹیج کو برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ کو مستقل K سے AC ٹیسٹ وولٹیج کی موثر قدر سے ضرب دیا جاتا ہے۔تقابلی ٹیسٹ کے ذریعے، ہمارے پاس درج ذیل نتائج ہیں: تار اور کیبل کی مصنوعات کے لیے، مستقل K 3 ہے؛ہوا بازی کی صنعت کے لیے، مستقل K 1.6 سے 1.7 ہے؛CSA عام طور پر سویلین مصنوعات کے لیے 1.414 استعمال کرتا ہے۔
A： ٹیسٹ وولٹیج جو برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ کا تعین کرتا ہے اس کا انحصار اس مارکیٹ پر ہوتا ہے کہ آپ کی مصنوعات کو کس مارکیٹ میں رکھا جائے گا، اور آپ کو حفاظتی معیارات یا ضوابط کی تعمیل کرنی ہوگی جو ملک کے درآمدی کنٹرول کے ضوابط کا حصہ ہیں۔برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ کے ٹیسٹ وولٹیج اور ٹیسٹ کا وقت حفاظتی معیار میں بیان کیا گیا ہے۔مثالی صورت حال یہ ہے کہ آپ اپنے کلائنٹ سے آپ کو متعلقہ ٹیسٹ کے تقاضے فراہم کرنے کو کہیں۔جنرل وولٹیج کا ٹیسٹ وولٹیج مندرجہ ذیل ہے: اگر ورکنگ وولٹیج 42V اور 1000V کے درمیان ہے، تو ٹیسٹ وولٹیج ورکنگ وولٹیج پلس 1000V سے دوگنا ہے۔یہ ٹیسٹ وولٹیج 1 منٹ کے لیے لگایا جاتا ہے۔مثال کے طور پر، 230V پر کام کرنے والی مصنوعات کے لیے، ٹیسٹ وولٹیج 1460V ہے۔اگر وولٹیج کی درخواست کا وقت چھوٹا ہے، تو ٹیسٹ وولٹیج کو بڑھانا ضروری ہے۔مثال کے طور پر، UL 935 میں پروڈکشن لائن ٹیسٹ کی شرائط:
| حالت | درخواست کا وقت (سیکنڈ) | لاگو وولٹیج |
| A | 60 | 1000V + （2 x V） |
| B | 1 | 1200V + （2.4 x V） |
| V = زیادہ سے زیادہ درجہ بند وولٹیج | ||
A: Hipot ٹیسٹر کی صلاحیت اس کی پاور آؤٹ پٹ سے مراد ہے۔برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹر کی صلاحیت کا تعین زیادہ سے زیادہ آؤٹ پٹ کرنٹ x زیادہ سے زیادہ آؤٹ پٹ وولٹیج سے ہوتا ہے۔مثال کے طور پر: 5000Vx100mA=500VA
A: آزمائشی آبجیکٹ کی گمراہ کن گنجائش AC اور DC کی وولٹیج ٹیسٹوں کی پیمائش شدہ اقدار کے درمیان فرق کی بنیادی وجہ ہے۔AC کے ساتھ جانچ کرتے وقت یہ آوارہ گنجائش پوری طرح سے چارج نہیں ہو سکتی ہے، اور ان آوارہ کیپیسیٹینسز سے مسلسل کرنٹ بہتا رہے گا۔ڈی سی ٹیسٹ کے ساتھ، ایک بار جب DUT پر آوارہ کیپیسیٹینس پوری طرح سے چارج ہو جاتا ہے، جو باقی رہ جاتا ہے وہ DUT کا اصل لیکیج کرنٹ ہے۔لہٰذا، AC کا سامنا کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ اور DC کے ساتھ وولٹیج ٹیسٹ کے ذریعے ماپا جانے والی رساو کرنٹ کی قدر مختلف ہوگی۔
A: انسولیٹر نان کنڈکٹیو ہوتے ہیں، لیکن درحقیقت تقریباً کوئی بھی موصلی مواد بالکل نان کنڈکٹیو نہیں ہوتا۔کسی بھی موصلی مواد کے لیے، جب اس پر وولٹیج کا اطلاق ہوتا ہے، تو ایک مخصوص کرنٹ ہمیشہ اس سے گزرتا ہے۔اس کرنٹ کے فعال جزو کو لیکیج کرنٹ کہا جاتا ہے، اور اس رجحان کو انسولیٹر کا رساو بھی کہا جاتا ہے۔برقی آلات کی جانچ کے لیے، رساو کرنٹ سے مراد وہ کرنٹ ہے جو ارد گرد کے درمیانے درجے سے بنتا ہے یا دھاتی حصوں کے درمیان باہمی موصلیت کے ساتھ، یا فالٹ اپلائیڈ وولٹیج کی عدم موجودگی میں لائیو پارٹس اور گراؤنڈ حصوں کے درمیان۔رساو کرنٹ ہے۔US UL معیار کے مطابق، رساو کرنٹ وہ کرنٹ ہے جو گھریلو آلات کے قابل رسائی حصوں سے چلایا جا سکتا ہے، بشمول اہلیت کے ساتھ جوڑے ہوئے کرنٹ۔رساو کرنٹ میں دو حصے شامل ہیں، ایک حصہ موصلیت کی مزاحمت کے ذریعے کنڈکشن کرنٹ I1 ہے۔دوسرا حصہ تقسیم شدہ اہلیت کے ذریعے نقل مکانی کرنٹ I2 ہے، مؤخر الذکر کیپسیٹیو ری ایکٹنس XC=1/2pfc ہے اور بجلی کی فراہمی کی فریکوئنسی کے الٹا متناسب ہے، اور تقسیم شدہ کیپسیٹنس کرنٹ تعدد کے ساتھ بڑھتا ہے۔اضافہ، تو رساو کرنٹ بجلی کی فراہمی کی تعدد کے ساتھ بڑھتا ہے۔مثال کے طور پر: بجلی کی فراہمی کے لیے thyristor کا استعمال کرتے ہوئے، اس کے ہارمونک اجزاء رساو کرنٹ کو بڑھاتے ہیں۔
A: برداشت کرنے والی وولٹیج ٹیسٹ کے تحت ٹیسٹ کے تحت آبجیکٹ کے موصلیت کے نظام کے ذریعے بہنے والے رساو کا پتہ لگانا اور موصلیت کے نظام پر کام کرنے والے وولٹیج سے زیادہ وولٹیج لگانا ہے۔جبکہ پاور لیکیج کرنٹ (کنٹیکٹ کرنٹ) عام آپریشن کے تحت ٹیسٹ کے تحت آبجیکٹ کے لیکیج کرنٹ کا پتہ لگانا ہے۔انتہائی ناگوار حالت (وولٹیج، فریکوئنسی) کے تحت ماپا جانے والی چیز کے رساو کرنٹ کی پیمائش کریں۔سیدھے الفاظ میں، برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ کا لیکیج کرنٹ ہے جس کی پیمائش بغیر کام کرنے والے پاور سپلائی کے تحت کی جاتی ہے، اور پاور لیکیج کرنٹ (کنٹیکٹ کرنٹ) عام آپریشن کے تحت ماپا جانے والا رساو کرنٹ ہے۔
A: مختلف ڈھانچے کی الیکٹرانک مصنوعات کے لیے، ٹچ کرنٹ کی پیمائش بھی مختلف تقاضوں پر مشتمل ہوتی ہے، لیکن عام طور پر، ٹچ کرنٹ کو زمینی رابطہ کرنٹ گراؤنڈ لیکیج کرنٹ، سطح سے زمینی رابطہ کرنٹ سطح سے لائن لیکیج کرنٹ اور سطح میں تقسیم کیا جا سکتا ہے۔ -ٹو لائن لیکیج کرنٹ تھری ٹچ کرنٹ سرفیس ٹو سرفیس لیکیج کرنٹ ٹیسٹ
A: کلاس I کے آلات کی الیکٹرانک مصنوعات کے قابل رسائی دھاتی حصوں یا انکلوژرز میں بنیادی موصلیت کے علاوہ بجلی کے جھٹکے سے تحفظ کے اقدام کے طور پر ایک اچھا گراؤنڈنگ سرکٹ بھی ہونا چاہیے۔تاہم، ہمارا اکثر کچھ ایسے صارفین سے سامنا ہوتا ہے جو کلاس I کے سامان کو کلاس II کے سامان کے طور پر من مانی طور پر استعمال کرتے ہیں، یا کلاس I کے آلات کے پاور ان پٹ اینڈ پر گراؤنڈ ٹرمینل (GND) کو براہ راست ان پلگ کرتے ہیں، اس لیے کچھ حفاظتی خطرات ہیں۔اس کے باوجود، یہ مینوفیکچرر کی ذمہ داری ہے کہ وہ اس صورت حال کی وجہ سے صارف کو لاحق خطرے سے بچائے۔اس لیے ٹچ کرنٹ ٹیسٹ کیا جاتا ہے۔
A: AC وولٹیج ٹیسٹ کے دوران، ٹیسٹ شدہ اشیاء کی مختلف اقسام، آزمائشی اشیاء میں آوارہ گنجائش کی موجودگی، اور مختلف ٹیسٹ وولٹیجز کی وجہ سے کوئی معیار نہیں ہے، اس لیے کوئی معیار نہیں ہے۔
A: ٹیسٹ وولٹیج کا تعین کرنے کا بہترین طریقہ یہ ہے کہ اسے ٹیسٹ کے لیے درکار وضاحتوں کے مطابق سیٹ کیا جائے۔عام طور پر، ہم ٹیسٹ وولٹیج کو 2 گنا ورکنگ وولٹیج پلس 1000V کے مطابق سیٹ کریں گے۔مثال کے طور پر، اگر کسی پروڈکٹ کا ورکنگ وولٹیج 115VAC ہے، تو ہم ٹیسٹ وولٹیج کے طور پر 2 x 115 + 1000 = 1230 وولٹ استعمال کرتے ہیں۔بلاشبہ، ٹیسٹ وولٹیج میں بھی مختلف درجات کی موصلیت کی تہوں کی وجہ سے مختلف ترتیبات ہوں گی۔
A: یہ تینوں اصطلاحات ایک ہی معنی رکھتی ہیں، لیکن اکثر ٹیسٹنگ انڈسٹری میں ایک دوسرے کے ساتھ استعمال ہوتی ہیں۔
A: موصلیت کی مزاحمت کا ٹیسٹ اور وولٹیج کا سامنا کرنے کا ٹیسٹ بہت ملتے جلتے ہیں۔ٹیسٹ کیے جانے والے دو پوائنٹس پر 1000V تک کا DC وولٹیج لگائیں۔IR ٹیسٹ عام طور پر megohms میں مزاحمتی قدر دیتا ہے، نہ کہ Hipot ٹیسٹ سے Pass/fail کی نمائندگی۔عام طور پر، ٹیسٹ وولٹیج 500V DC ہے، اور موصلیت مزاحمت (IR) کی قدر چند میگوہمز سے کم نہیں ہونی چاہیے۔موصلیت مزاحمت ٹیسٹ ایک غیر تباہ کن ٹیسٹ ہے اور یہ پتہ لگا سکتا ہے کہ آیا موصلیت اچھی ہے یا نہیں۔کچھ تصریحات میں، موصلیت مزاحمت ٹیسٹ پہلے کیا جاتا ہے اور پھر وولٹیج کا مقابلہ کیا جاتا ہے۔جب موصلیت کا مزاحمتی ٹیسٹ ناکام ہو جاتا ہے، وولٹیج کا سامنا کرنے والا ٹیسٹ اکثر ناکام ہو جاتا ہے۔
A: گراؤنڈ کنکشن ٹیسٹ، کچھ لوگ اسے گراؤنڈ کنٹینیوٹی (گراؤنڈ کنٹینیوٹی) ٹیسٹ کہتے ہیں، DUT ریک اور گراؤنڈ پوسٹ کے درمیان رکاوٹ کی پیمائش کرتا ہے۔گراؤنڈ بانڈ ٹیسٹ اس بات کا تعین کرتا ہے کہ آیا پروڈکٹ ناکام ہونے کی صورت میں DUT کی حفاظتی سرکٹری فالٹ کرنٹ کو مناسب طریقے سے سنبھال سکتی ہے۔گراؤنڈ بانڈ ٹیسٹر گراؤنڈ سرکٹ کے ذریعے زیادہ سے زیادہ 30A DC کرنٹ یا AC rms کرنٹ (CSA کو 40A پیمائش کی ضرورت ہے) پیدا کرے گا تاکہ زمینی سرکٹ کی رکاوٹ کا تعین کیا جا سکے، جو عام طور پر 0.1 اوہم سے کم ہوتا ہے۔
A: IR ٹیسٹ ایک کوالٹیٹیو ٹیسٹ ہے جو موصلیت کے نظام کے رشتہ دار معیار کا اشارہ دیتا ہے۔یہ عام طور پر 500V یا 1000V کے DC وولٹیج کے ساتھ ٹیسٹ کیا جاتا ہے، اور نتیجہ میگوہم مزاحمت کے ساتھ ماپا جاتا ہے۔وولٹیج کا سامنا کرنے والا ٹیسٹ بھی ٹیسٹ کے تحت ڈیوائس پر ہائی وولٹیج کا اطلاق کرتا ہے (DUT)، لیکن لاگو وولٹیج IR ٹیسٹ سے زیادہ ہے۔یہ AC یا DC وولٹیج پر کیا جا سکتا ہے۔نتائج ملی ایمپس یا مائیکرو ایمپس میں ماپا جاتا ہے۔کچھ وضاحتوں میں، IR ٹیسٹ پہلے کیا جاتا ہے، اس کے بعد وولٹیج کا مقابلہ کیا جاتا ہے۔اگر کوئی آلہ زیر ٹیسٹ (DUT) IR ٹیسٹ میں ناکام ہو جاتا ہے، تو ٹیسٹ کے تحت آلہ (DUT) بھی زیادہ وولٹیج پر برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ میں ناکام ہو جاتا ہے۔
A: گراؤنڈنگ امپیڈینس ٹیسٹ کا مقصد اس بات کو یقینی بنانا ہے کہ حفاظتی گراؤنڈنگ تار فالٹ کرنٹ کے بہاؤ کو برداشت کر سکے تاکہ صارفین کی حفاظت کو یقینی بنایا جا سکے جب آلات کی مصنوعات میں کوئی غیر معمولی حالت واقع ہوتی ہے۔حفاظتی معیاری ٹیسٹ وولٹیج کا تقاضا ہے کہ زیادہ سے زیادہ اوپن سرکٹ وولٹیج 12V کی حد سے زیادہ نہ ہو، جو کہ صارف کی حفاظت کے تحفظات پر مبنی ہے۔ٹیسٹ میں ناکامی کے بعد، آپریٹر کو بجلی کے جھٹکے کے خطرے کو کم کیا جا سکتا ہے۔عام معیار کا تقاضا ہے کہ گراؤنڈنگ مزاحمت 0.1ohm سے کم ہو۔پروڈکٹ کے اصل کام کرنے والے ماحول کو پورا کرنے کے لیے 50Hz یا 60Hz کی فریکوئنسی کے ساتھ AC کرنٹ ٹیسٹ استعمال کرنے کی سفارش کی جاتی ہے۔
A: برداشت کرنے والے وولٹیج ٹیسٹ اور پاور لیکیج ٹیسٹ کے درمیان کچھ فرق ہیں، لیکن عام طور پر، ان اختلافات کا خلاصہ اس طرح کیا جا سکتا ہے۔وولٹیج کو برداشت کرنے کا ٹیسٹ یہ ہے کہ پروڈکٹ کی موصلیت پر دباؤ ڈالنے کے لیے ہائی وولٹیج کا استعمال کیا جائے تاکہ یہ معلوم کیا جا سکے کہ آیا پروڈکٹ کی موصلیت کی طاقت ضرورت سے زیادہ رساو کو روکنے کے لیے کافی ہے۔لیکیج کرنٹ ٹیسٹ اس لیکیج کرنٹ کی پیمائش کرنا ہے جو پروڈکٹ کے استعمال میں ہونے پر پاور سپلائی کی نارمل اور سنگل فالٹ حالتوں کے تحت پروڈکٹ میں بہتی ہے۔
A: ڈسچارج ٹائم میں فرق ٹیسٹ شدہ چیز کی گنجائش اور وولٹیج ٹیسٹر کے ڈسچارج سرکٹ پر منحصر ہے۔گنجائش جتنی زیادہ ہوگی، خارج ہونے کا وقت اتنا ہی زیادہ ہوگا۔
A: کلاس I کا سامان کا مطلب ہے کہ قابل رسائی کنڈکٹر کے حصے گراؤنڈنگ حفاظتی کنڈکٹر سے جڑے ہوئے ہیں۔جب بنیادی موصلیت ناکام ہوجاتی ہے تو، گراؤنڈ حفاظتی موصل کو فالٹ کرنٹ کو برداشت کرنے کے قابل ہونا چاہیے، یعنی جب بنیادی موصلیت ناکام ہوجاتی ہے، تو قابل رسائی حصے براہ راست برقی پرزے نہیں بن سکتے۔سیدھے الفاظ میں، پاور کورڈ کے گراؤنڈ پن والا سامان کلاس I کا سامان ہے۔کلاس II کا سامان نہ صرف بجلی سے بچانے کے لیے "بنیادی موصلیت" پر انحصار کرتا ہے، بلکہ دیگر حفاظتی احتیاطی تدابیر بھی فراہم کرتا ہے جیسے "ڈبل انسولیشن" یا "مضبوط موصلیت"۔حفاظتی ارتھنگ یا تنصیب کی شرائط کی وشوسنییتا سے متعلق کوئی شرائط نہیں ہیں۔
